|
< Вернуться в указатель (go to main page)
ОСТ электронной промышленности
("плюсиком" отмечено наличие в нашем фонде)
ОСТ 11 010.013-82 Оборудование для производства электронной техники. Детали и сборочные единицы. Общие технические требования
ОСТ 11 12.0004-84 (с изм. 1, 2 1990) ССБТ. Электромагнитные поля радиочастот 0,3-300 ГГц. Требования безопасности
ОСТ 11 14.1012-99 Микросхемы интегральные. Технические требования к технологическому процессу. Система и методы операционного контроля
ОСТ 11 14.3302-87 (с изм. 1 1989) Изделия электронной техники. Общие технические требования электронной гигиены к чистым помещениям
ОСТ 11 14.5014-86 Изделия электронной техники. Технологический процесс лазерной сварки
ОСТ 11 ОД0.021.008-77 (с изм. 1 1983) Пасты металлизационные для керамики. Технические требования
ОСТ 11 027.006-83 (с изм. 1 1985, 3 1990) Диэлектрики неорганические. Метод определения удельного объемного электрического сопротивления
ОСТ 11 027.012-75 (с изм. 1, 2, 3 1981, 4 1986) Стекло электровакуумное. Определение содержания окиси кобальта
ОСТ 11 027.014-76 (с изм. 1 1981, 2 1986, 3 1991) Стекло электровакуумное. Определение содержания окиси никеля
ОСТ 11 027.016-76 (с изм. 1, 2, 3 1988) Стекло электровакуумное. Определение суммы окислов алюминия, железа и титана
ОСТ 11 027.032-78 (с изм. 1 1985, 3 1990) Стекло электровакуумное. Методы определения содержания двуокиси титана
ОСТ 11 027.038-79 (с изм. 1 1980, 2 1985, 3 1990) Цемент стеклокристаллический. Метод определения растекаемости
ОСТ 11 027.041-79 (с изм. 1, 2 1989) Стекло электровакуумное. Методы определения содержания окиси цинка
ОСТ 11 027.042-80 (с изм. 1 1986, 2, 3 1988) Диэлектрики неорганические. Метод определения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне от 2,5 до 3,5 ГГц
ОСТ 11 027.045-80 (с изм. 1,2 1986) Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь при частоте от 8 до 10 ГГц
ОСТ 11 027.057-81 (с изм. 1 1987, 2 1991) Стекло электровакуумное. Метод определения содержания хлора
ОСТ 11 027.060-82 Стекло электровакуумное. Метод определения температуры трансформации
ОСТ 11 027.062-83 (с изм. 1 1986, 2 1988) Диэлектрики неорганические. Методы определения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 8 до 10 ГГц
ОСТ 11 027.703-83 (с изм. 1 1987) Микросхемы интегральные СВЧ. Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения неоднородности локальной диэлектрической проницаемости
ОСТ 11 П0.028.002-73 Составы маркировочные для изделий электронной техники
ОСТ 11 029.003-80 Изделия электронной техники. Вода, применяемая в производстве. Марки, технические требования, методы очистки и контроля
ОСТ 11 050.003-83 Газы, используемые в производстве изделий электронной техники. Технические требования и методы контроля
ОСТ 11 050.060.17-80 (с изм. 1 1985) Припои ПСрМПд 52-28-20В и ПСрМПд 68-27-5В. Методы определения серебра и палладия
ОСТ 11 050.061.3-80 Изделия электронной техники. Электролит для осаждения сплава олово-висмут. Методы химического анализа
ОСТ 11 054.019-79 (с изм. 1 1986) Изделия электронной техники. Сварка диффузионная. Технологический процесс
+ОСТ 11 054.249-78 (с изм. 1 1983, 2 1987) Приборы ферритовые СВЧ. Клеевые соединения. Типовые технологические процессы
+ОСТ 11 054.291-83 Изделия электронной техники. Технологический процесс очистки деталей в растворителях (взамен OCT 11 ПО.054.010)
ОСТ 11 0056-84 Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Методы бесконтактного измерения отклонения от плоскостности
ОСТ 11 070.101.69-83 Система показателей качества продукции. Вакуумметры. Номенклатура показателей
ОСТ 11 070.101.70-83 Система показателей качества продукции. Преобразователи манометрические. Номенклатура показателей
ОСТ 11 070.101.85-84 Система показателей качества продукции. Течеискатели. Номенклатура показателей
ОСТ 11 070.802-80 Материалы оптические и элементы твердотельных лазеров. Метод определения лазерной прочности
ОСТ 11 070.837-82 СПКП. Источники питания твердотельных лазеров. Номенклатура показателей
ОСТ 11 070.848-82 СПКП. Элементы активные твердотельные. Номенклатура показателей
ОСТ 11 070.853-82 СПКП. Индикаторы жидкокристаллические. Номенклатура показателей
ОСТ 11 070.883-83 СПКП. Устройства управления лазерным излучением. Модуляторы и затворы акустооптические. Номенклатура показателей
+ОСТ 11 П0.073.008-72 (с изм. 1-23) Приборы электровакуумные. Размеры присоединительные. Расположение штырьков. Калибры
+ОСТ 11 073.013-2008 (с изм. 1-2) Микросхемы интегральные. Методы испытаний. Физико-технические методы испытаний. Часть 5
ОСТ 11 073.062-2001 (с изм. 1 2002, 2 2003) Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Требования и методы защиты от статического электричества в процессе производства и применения
ОСТ 11 073.915-2000 Микросхемы интегральные. Классификация и система условных обозначений
ОСТ 11 078.002-76 Оборудование для производства изделий электронной техники. Отливки из чугуна и стали. Общие технические условия
ОСТ 11 0078.3-84 (с изм. 1 1989) Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования
ОСТ 11 078.005-78 (с изм. 1 1983, 2 1985) Оборудование для производства изделий электронной техники. Отливки из цветных сплавов. Общие технические условия
ОСТ 11 091.420-79 ССБТ. Нанесение токопроводящего слоя хроморганической жидкостью. Требования безопасности
+ОСТ 11 091.430.13-83 ССБТ. Изготовление приборов с керамикой из окиси бериллия. Общие требования
ОСТ 11 П0.094.018-73 (с изм. 1, 2 1988) Цемент стеклокристаллический. Определение степени согласованности по напряжениям в спае со стеклом
ОСТ 11 0140-85 Клей для изделий электронной техники. Выбор, свойства и область применения
ОСТ 11 0152-85 (с изм. 1 1988, 2 1989) Контакты магнитоуправляемые герметизированные. Руководство по применению
ОСТ 11 0161.2-85 Приборы пьезоэлектрические и фильтры электромеханические. Метод проверки электрической прочности изоляции
ОСТ 11 0161.3-86 Резонаторы пьезоэлектрические. Методы измерения динамического сопротивления в интервале рабочих температур
ОСТ 11 0253.1-86 Фильтры электромеханические. Методы измерения группового времени замедления
ОСТ 11 283.003-75 Течеискательная аппаратура и масс-спектрометрические измерители парциальных давлений. Типы и основные параметры
ОСТ 11 293.030-85 Системы вакуумные. Методика измерения давления
ОСТ 11 293.031-81 Системы вакуумные. Методы контроля герметичности
ОСТ 11 295.021-85 Насосы и агрегаты вакуумные. Методы испытаний
ОСТ 11 336.018-82 Приборы полупроводниковые бескорпусные. Общие технические условия
+ОСТ 11 336.907.3-81 (с изм. 1 1986, 2 1989) Приборы полупроводниковые. Стабилитроны. Руководство по применению
+ОСТ 11 366.008-74 (с изм. 1 1977, 2 1980, 3 1984, 4 1986) Платы монтажные типа ПМ4
ОСТ 11 0379-87 (с изм. 1 1990) Материалы полимерные. Методы определения коррозийной активности по отношению к металлам
ОСТ 11 397.804-80 Лазеры газовые. Методы измерения поляризации излучения
ОСТ 11 397.834-83 Комплектующие элементы изделий квантовой электроники. Детали и сборочные единицы оптические. Классификация и система обозначений
ОСТ 11 0444-87 Материалы пьезокерамические. Технические условия
ОСТ 11 468.801.0-82 Термисторы. Общие требования при измерении параметров
+ОСТ 11 468.801.1-82 Термисторы. Метод измерения холодного сопротивления
+ОСТ 11 468.801.2-82 Термисторы. Методы измерения горячего сопротивления и максимальной мощности подогревателя
ОСТ 11 468.801.4-82 Термисторы. Методы измерения мощности и чувствительности в рабочей точке
ОСТ 11 0555-88 Преобразователи давления измерительные. Типы. Общие технические требования
ОСТ 11 707.004-76 Ферриты сверхвысокочастотные. Марки, основные параметры и методы измерений
ОСТ 11 0808-92 Контроль неразрушающий. Методы течеискания
ОСТ 11 0869-92 Соединители низкочастотные до 1500 В и комбинированные. Общие технические условия (взамен ГОСТ 23784-84)
< Вернуться в указатель (go to main page)
|
